一个简单的血液测试可以告诉我们如何治疗出生前或出生前缺氧的婴儿。

　　在英国每年出生的65万名婴儿中，约有1625名患有缺氧缺血性脑病(HIE)，这种疾病可能导致脑瘫、癫痫、耳聋或失明。

　　治疗通常包括全身降温——治疗性低温——可以帮助预防死亡和残疾，但在某些情况下，这种疗法已被证明会增加死亡的风险。

　　现在科学家们已经找到了原因。英国帝国理工学院(Imperial College)的一个研究小组发现，由于母亲压力大、营养不良或怀孕期间感染等原因，缺氧可能会长期发生，也可能是由于母亲出血等意外事件造成的。

　　虽然冷却可能对后者有效，但它可能对长时间的氧气消耗更危险。

　　帝国理工学院开发的一种新的血液测试可以通过观察基因标记来找出脑损伤的原因。

　　研究小组在意识到印度、孟加拉国和斯里兰卡等低收入国家的婴儿在降温治疗后恢复不佳后取得了突破，这表明他们的脑损伤可能有不同的原因。

　　这些婴儿与英国等高收入国家的婴儿在基因表达上存在巨大差异，这表明造成脑损伤的潜在原因不同。

　　首席研究员、伦敦帝国理工学院脑科学系的苏欣·塔伊尔教授解释说:“正如我们的研究显示的那样，尽管婴儿脑损伤的病例可能看起来很相似，但它们的发生方式可能完全不同。”

　　“我们在低收入国家婴儿身上看到的基因表达模式与你在睡眠呼吸暂停患者身上看到的相似，这表明他们在子宫和出生时经历了间歇性缺氧。”

　　“我们认为，这是由怀孕期间的多种慢性压力造成的，比如营养不良或感染，以及正常的分娩过程和子宫收缩，这些都会导致进一步的缺氧，最终损害婴儿的大脑。”

　　“另一方面，HICs婴儿的基因表达模式表明，脑损伤的单一急性原因，例如分娩时的并发症，如母体出血，导致胎儿血氧水平突然下降。”

　　在治疗性低温疗法出现之前，大约四分之一的新生儿可能会死于大脑缺氧，而存活下来的75%则有严重残疾的风险。

　　这项研究结果发表在《美国医学会杂志网络开放》(JAMA Network Open)上，最终可能会导致一种简单的测试，以快速诊断新生儿的脑损伤，并帮助做出治疗决定。

　　在全球范围内，HIE是足月出生婴儿死亡和残疾的主要原因，每年影响约300万婴儿。

　　南亚，特别是印度，疾病负担最重，该国占世界上所有与卫生组织有关的死亡人数的60%。

　　来自印度孟买洛克马尼亚蒂拉克市立医学院的研究报告合著者斯瓦蒂·马纳卡尔教授说:“对于世界各地的临床医生来说，关键是能够尽快识别出他们正在处理的是哪种类型的脑损伤——这也是我们目前正在研究的。”